在使用色差儀測量顏色時，觀察和測量的結果取決于材料反射光和和接收光的大小和比例。反射光對顏色測量有“沖淡”的影響，降低顏色飽和度。當進入傳感器觀察角度的光中接收光比例越大時，被測樣品的顏色被“沖淡”的程度就越大，從測量結果上看，色飽和度就越小。在實際的測色儀器設計中，以di：8°、de：8°、45：0（0：45）條件最為常見，下面對三種幾何條件詳細介紹。
d：8幾何條件包含反射光測量結構（di：8°）的光澤影響：
di：8°測量結構如下圖所示。在這種測量條件下，光源發出的光首先入射到積分球內壁上，通過積分球對樣品進行漫射照明，觀察角度接近垂直于材料表面方向。在通常的儀器設計中通常選擇8"作為觀察角度。這樣做的原因是，觀察口徑通常設置了透鏡等光學器件，會反射一部分入射光線。鏡面反射光在8。和0。位置的光強是非常接近的，不會對測量結果產生太大的影響。在di：8°結構中，進入觀察角度的光強，包括一部分在材料表面發生的鏡面反射光。當被測材料是高光澤鏡面時，測量孔徑相對表面法線對稱方向的積分球壁發出的光線經過被測物體表面的鏡面反射之后，鏡面反射光會進入測量孔徑。下圖比較了在di：8°幾何條件下測量高光澤表面和粗糙表面的情況。這兩種表面假設其材料本身顏色相同，只是表面光澤有區別。入射至物體表面的光線來自積分球球壁，從各個方向入射。由于反射光總量沒有變化，兩種情況下傳感器測量得到的結果沒有區別。
d：8°幾何條件去除反射光測量結構（de：8°）的光澤影響：
de：8°結構如下圖所示。這種結構在 di：8°上進行了更改，在積分球球壁上和觀察孔徑對稱的方向開孔，放置光澤陷阱。在de：8°結構中，光阱放置在
8°位置。當光線入射至光阱位置時，被光阱吸收。下圖為de：8°結構在測量高光澤表面時的具體情況。由于光阱的作用，鏡面反射光不能進入傳感器。在這種情況下，進入觀察孔徑的只是涂層反射光。下圖為在粗糙表面測量的情況，這種情況下進入觀察孔徑的光線包括了表面漫反射光和涂料，層反射光。所以，de：8°結構在測量本身顏色相同，只是表面光澤有區別的高光澤表面和粗糙表面時，測量結果會產生差別。由于在測量粗糙表面時，混入了材料表面反射光，所以測量結果顏色飽和度降低，“沖淡”了所測得的材料顏色，使人感覺顏色不那么鮮艷。
de：8°幾何條件的提出是為了在 d：8 測量中更好與人眼評價結果保持一致，但是并不是在所有測量中都能達到這個目的。另外，不同儀器設計中由于光阱尺寸和位置的偏差，也會導致測量相同樣品測量結果的差別。
0：45 和 45：0 測量結構的光澤影響：
0：45測量結構中，光源以垂直方向對被測材料表面進行照明，以和表面法線成45°方向進行探測。45：0測量結構中光源以表面法線成45。方向對被測材料表面進行照明，以和表面垂直方向進行探測。下圖所示為45：0幾何結構對高光澤表面和粗糙表面進行測量的示意圖。45：0幾何結構在測量高光澤材料表面時，幾乎去除了所有的表面反射光，進入傳感器的光線只是涂料層反射光；在測量粗糙表面時，進入傳感器的光線包括一部分涂料層反射光，但是通常表面漫反射光所占的比例小于de：8°幾何條件。
人眼在觀察樣品表面顏色時，習慣于避開光源的鏡面反射光，從其它角度進行觀察。0：45和45：0幾何結構更符合這種觀測條件，所以可以得到和目視檢測更加一致的判別結果。但是，在大多數顏色檢測應用中都不建議選擇0：45和45：0幾何條件。最主要的原因是因為這種條件下的受材料表面的紋理影響特別大，同樣材料的物體表面如果表面紋理不同，用這種幾何條件的檢測結果相差非常大。在實際的對微小色差檢測的應用中，紋理、材質、甚至材料表面指印、灰塵等任何對材料表面光澤有影響的因素，都會成為0：45和45：0幾何結構色差數據的主要影響因素。去除這些因素所需要的客觀條件非常苛刻，不利于顏色檢測的實際應用。
另外，在實際的生產過程檢測中，色差的檢測于光澤的檢測通常是分開的，色差檢測的目的通常是檢測材料成分，染料配比等能直接決定材料本身反射光譜的工序；而光澤檢測的目的通常是用來控制材料表面加工工藝的。0：45和45：0幾何條件容易將光澤的區別體現在顏色數據上，混淆了顏色和光澤產生的原因。以上因素限制了0：45和45：0幾何條件的應用范圍。有一些特殊的應用，例如高光澤樣品的品質監控中需要與目視進行比對時，也應用了0：45和45：0 幾何條件。
綜上所述，di：8°結構用積分球收集了所有反射光線，因為表面反射光的總量是不變的，光澤只改變了表面反射光的空間分布。所以在這種測量結構下，同種材料不同光澤的樣品，測量結果相同。de：8"通常使用光阱去除了進入傳感器的鏡面反射光，在這種測量結構下測量結果會受到一定的樣品表面光澤的影響。
45：0測量結構儀器幾乎排除了所有的鏡面反射光，但是測量結果受到表面漫反射光的影響，尤其是在測量低光澤物體表面時，這種影響會非常顯著。下表列出了不同幾何結構的顏色測量儀器進入探測器的反射光比例。
對于一組表面光澤不同的同種顏色的黑色樣品，表面光澤由低制高排列。對其采用 di：8°、de：8°和 0：45 幾何條件的測色儀器進行測試其 Y 值。Y 值的分布如下圖所示。di：8°條件下，不同光澤度的同色樣品測量結果變化不大。de：8°條件下的測量結果呈現線性降低，但是在 0：45 條件下，測量結果呈現非線性變化。在對這一組樣品進行目視檢測時，人眼對表面顏色的感覺和在0：45幾何條件下的測量結果比較相似。
值得注意的是，雖然各個不同的儀器生產廠商生產的顏色測量儀器可能都標稱選擇同一個測量幾何條件。但是，即使在同一個測量幾何條件下，由于儀器的設計中光阱位置，大小不同，對樣品的測試結果也會有很大差異。比如，de：8結構的儀器對高光澤樣品進行測量時，不同廠家的儀器有顯著的區別。
